日立分析儀器宣布推出一款堅固的手持式X 射線熒光光譜儀(XRF) — X-MET8000，該儀器能夠對土壤中的污染元素進行高精度、高可靠性的鑒定。日立分析儀器的手持式X 射線熒光光譜儀譽滿，X-MET7000 是其第五代產品。
這款擁有日立分析儀器PentaFET® 探測器技術的儀器，保證了用戶對所有感興趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素檢測下限。
X-MET8000可以為塑膠、印刷線路板、電纜、塑膠外殼、焊料、緊固件、金屬薄片和其他電子元器件提供快速、無損、“對準即測”的篩選分析。
國家立法嚴格保護土壤質量，使得土壤中重金屬鑒定日顯重要，同時，通過預先分揀受污染的土壤也可以大幅度降低垃圾填埋的費用。這款新產品可在數(shù)秒內完成對“可疑污染區(qū)域”的分析，十分便捷高效。
其強大的用戶自定義軟件能夠提供準確的分析結果，從而提高了“合格/不合格”決定的可靠性。X-MET8000 能夠識別材料類型，并自動選擇分析方法。
借助于其可選配的臺式支架，可免除執(zhí)行多分析任務時的手工操作，同時又不會令測量結果的置信水平受到任何影響。
使用手持式X射線熒光光譜儀在進行土壤篩選，可以有效降低實驗室分析的成本，并迅速作出決策。
l 精確測定重金屬和其他有毒元素只需要幾秒鐘
l 4.3”市面的屏幕，呈現(xiàn)最清晰的結果
l 快速分析，快速采取補救措施
l 用戶自定義上下限，結果合格/不合格清楚顯示
l GPS裝置將分析數(shù)據和位置坐標結合起來
l 可直接在土壤上或樣品袋里分析
l 只需要制備很少的樣品，結果質量能與實驗室分析媲美，可放在選配的工作臺支架上進行分析
l 能非常準確地鑒定超過25種元素，包括V,Cr,Co,Cu,Ni,Zn,As,Se,Mo,Ag,Cd,Pb,Hg,Sb等
l X-MET7000和X-MET7500符合EPA6200方法要求
l 現(xiàn)場可創(chuàng)建和保存密碼保護的PDF結果報告
l 經久耐用的設計，適合于各種惡劣的環(huán)境和氣候條件
l 高強度密封型抗沖擊外殼設計
l 經IP54(NEMA3)認證，超的防塵、防水、特性
l 橡膠保護套可保護儀器屏幕、前段和電池，可以避震并防止儀器從傾斜工作面滑落
l 從酷熱到嚴寒，X-MET總是能表現(xiàn)出性能
l 輕便、堅固、防水的保護箱，方便運輸和儲存
l 集成GPS/GIS導航系統(tǒng)
X-MET8000系列與美國Trimble和其他GPS導航系統(tǒng)品牌公司優(yōu)化合作，提供用戶站點地圖分析結果和地方數(shù)據，幫助用戶做出化的決定。
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