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HORIBA激光粒度儀 詳細(xì)摘要： HORIBA激光粒度儀HORIBA LA-950S2激光粒度儀
產(chǎn)品型號(hào)：LA-950S2 所在地： 更新時(shí)間：2023-02-10 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Auto 色新型相調(diào)制橢圓偏振光譜儀 詳細(xì)摘要： Auto 色新型相調(diào)制橢圓偏振光譜儀
產(chǎn)品型號(hào)：auto se 所在地： 更新時(shí)間：2023-02-09 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
堀場(chǎng)便攜式氣體分析儀 詳細(xì)摘要： 堀場(chǎng)便攜式氣體分析儀HORIBA PG-300
產(chǎn)品型號(hào)：PG-300 所在地： 更新時(shí)間：2023-02-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
HORIBA氣體分析儀 詳細(xì)摘要： HORIBA氣體分析儀 PG-250
產(chǎn)品型號(hào)：PG-250 所在地： 更新時(shí)間：2023-02-08 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
HORIBA 詳細(xì)摘要： 日本進(jìn)口 HORIBA OCMA-350
產(chǎn)品型號(hào)：OCMA-350 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-05 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
HORIBA納米粒徑測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要： HORIBA LB-550粒徑分布分析儀。
產(chǎn)品型號(hào)：LB-550 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-02 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
激光散射顆粒度分布測(cè)試儀 詳細(xì)摘要： HORIBA的粒度分布檢測(cè)裝置LA系列中高性能機(jī)種新登場(chǎng)。實(shí)現(xiàn)了目前業(yè)內(nèi)高的檢測(cè)精度和速度，檢測(cè)從亞微米到毫米級(jí)的粉體等各種“粒的大小" 。
產(chǎn)品型號(hào)：LB-550V 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
激光散射顆粒度分布測(cè)試儀 詳細(xì)摘要： HORIBA的粒度分布檢測(cè)裝置LA系列中高性能機(jī)種新登場(chǎng)。實(shí)現(xiàn)了目前業(yè)內(nèi)高的檢測(cè)精度和速度，檢測(cè)從亞微米到毫米級(jí)的粉體等各種“粒的大小" 。
產(chǎn)品型號(hào)：LA-950V 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
實(shí)時(shí)膜厚檢測(cè)儀 詳細(xì)摘要： 概要實(shí)時(shí)的干涉測(cè)量設(shè)備，提供蝕刻/鍍膜制程中高精度的膜厚及蝕刻溝深度檢測(cè)。單色光打在樣品表面，由于膜厚和高度變化導(dǎo)致不同的光路長(zhǎng)度時(shí)，使用干涉測(cè)量法。通過(guò)循環(huán)，...
產(chǎn)品型號(hào)：LEM-CT-670-G50 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
實(shí)時(shí)膜厚檢測(cè)儀 詳細(xì)摘要： 實(shí)時(shí)的干涉測(cè)量設(shè)備，提供蝕刻/鍍膜制程中高精度的膜厚及蝕刻溝深度檢測(cè)。單色光打在樣品表面，由于膜厚和高度變化導(dǎo)致不同的光路長(zhǎng)度時(shí)，使用干涉測(cè)量法。通過(guò)循環(huán)，系統(tǒng)...
產(chǎn)品型號(hào)：DIGILEM-CPM-Xe/Halogen 所在地： 更新時(shí)間：2021-07-01 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
非接觸式放射溫度計(jì) 詳細(xì)摘要： 非接觸式放射溫度計(jì)IT480系列是horiba推出的一款便攜式放射溫度計(jì)，部分含有鐳射對(duì)焦功能。社設(shè)備溫度測(cè)量范圍大可達(dá)-50-1000攝氏度！IT480P,I...
產(chǎn)品型號(hào)：IT480 所在地： 更新時(shí)間：2020-09-21 參考價(jià)： 面議 在線留言