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電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域測量速度：測量一個(gè)點(diǎn)的時(shí)間小于4秒1、熱電材料，超導(dǎo)材料，燃料電池，導(dǎo)電陶瓷以及半導(dǎo)體材料的均勻度測量2、測量功能梯度材...
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