瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計(jì)產(chǎn)品簡介:
探頭和沖擊體的使用壽命長,比市場上其他產(chǎn)品的使用壽命長四倍。
配備完整的探頭組合、廣泛的材料轉(zhuǎn)換表,包括Proceq自己的研究和世界上廣泛的標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)換。
通過強(qiáng)大的內(nèi)置報(bào)告功能,以及可定制的視圖、多個(gè)向?qū)Ш筒牧线x擇助手,隨時(shí)可用的報(bào)告。
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計(jì)產(chǎn)品應(yīng)用:
鑄件、法蘭、軸和棒材
管材的硬度測試
近線質(zhì)量控制
熱處理表面
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計(jì)技術(shù)參數(shù):
傳感器/儀表 | |
PC軟件 | Equotip Link允許直接報(bào)告和自定義報(bào)告 |
內(nèi)存 | 內(nèi)部8GB閃存(>1000000次測量) |
顯示 | 帶雙核處理器的7"彩色堅(jiān)固觸摸屏單元(800×480像素) |
本機(jī)規(guī)模 | HLx(x:D、DC、DL、S、E、G、C) |
可用刻度 | HB,HV,HRA,HRB,HRC,HS,MPA(σ1,σ2,σ3) |
可用探頭 | Leeb D/DC/DL/S/E/G/C |
與其他方法結(jié)合 | Portable Rockwell,UCI |
最小非耦合試樣質(zhì)量(kg/lbs) | 15/33(Leeb G) 5/11(Leeb D,DC,DL,E,S) 1.5/3.3(Leeb C) |
最小耦合試樣質(zhì)量(kg/lbs) | 0.5/1.1(Leeb G) 0.05/0.2(Leeb D,DC,DL,E,S) 0.02/0.045(Leeb C) |
最小非耦合試樣厚度(mm/inch) | 70/2.73(Leeb G) 25/0.98(Leeb D,DC,DL,E,S) 15/0.59(Leeb C) |
最小耦合試樣厚度(mm/inch) | 10/0.4(Leeb G) 3/0.12(Leeb D,DC,DL,E,S) 1/0.04(Leeb C) |
儀器固件 | 沖擊方向自動(dòng)補(bǔ)償 個(gè)性化用戶配置文件和視圖 集成在自動(dòng)化測試環(huán)境中(包括遠(yuǎn)程控制) 支持11種語言和時(shí)區(qū) 測量向?qū)?/span> 自定義曲線向?qū)?/span> 組合方法向?qū)?/span> 用戶指南功能 自定義報(bào)表功能 |
自定義轉(zhuǎn)換曲線 | 支持單點(diǎn)偏移,2點(diǎn)偏移及多點(diǎn)偏移 |
連接 | USB主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng) |
根據(jù) | ISO 16859、ASTM A 956、自定義方法、組合方法 |
測量范圍 | 150-950HL |
防護(hù)等級 | IP54,堅(jiān)固,帶有減震外殼 |
測量精度 | ±4HL(0.5% at 800HL) |
變異系數(shù) | ±4HL(0.5% at 800HL) |