微泄漏密封性測(cè)試儀-綜述
真空衰減法是一種無(wú)損、定量的檢測(cè)非多孔、剛性或柔性包裝泄漏的方法。具有多孔成分的包裝,例如具有多孔蓋材料的托盤(pán),也可以通過(guò)掩蔽多孔包裝成分的真空衰減來(lái)測(cè)試。
為了進(jìn)行測(cè)試,首先將測(cè)試樣品放置在與泄漏測(cè)試系統(tǒng)氣動(dòng)連接的緊密配合的排放測(cè)試室中,泄漏測(cè)試系統(tǒng)配備有外部真空源。測(cè)試室必須地設(shè)計(jì)成包含測(cè)試包。帶有可移動(dòng)或柔性部件的測(cè)試樣品需要適當(dāng)?shù)墓ぞ邅?lái)分別限制這些部件的移動(dòng)或膨脹。具有多孔組分的樣品需要掩蔽多孔材料。在測(cè)試開(kāi)始時(shí),將測(cè)試室加上測(cè)試系統(tǒng)死區(qū)排空一段預(yù)定的時(shí)間。
測(cè)試所選擇的目標(biāo)真空度是根據(jù)評(píng)估的測(cè)試樣本類(lèi)型預(yù)先確定的。然后將真空源與測(cè)試系統(tǒng)隔離。
在短暫系統(tǒng)平衡之后,使用絕對(duì)或差壓傳感器在預(yù)定的時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)監(jiān)測(cè)腔體內(nèi)壓力的上升(即,真空衰減)。超過(guò)使用負(fù)控制建立的預(yù)定通過(guò)/失效極限的壓力增加表明容器泄漏??蓞⒖糀STM F2338。
應(yīng)用
1. 可測(cè)試無(wú)孔、剛性或柔性包裝,或具有多孔部件的包裝。
2. 可以測(cè)試包含氣體、液體和/或固體材料的包裝:當(dāng)暴露于測(cè)試真空條件時(shí),具有非固定部件的柔性包裝或包裝需要工具來(lái)分別限制包裝的膨脹或移動(dòng)。工具化使柔性封裝密封應(yīng)力最小化,并保持在泄漏路徑上的一致的封裝體積和壓差條件。
帶有多孔成分的包裝可以通過(guò)使用特殊工具或阻塞輔助物來(lái)掩蔽多孔成分來(lái)測(cè)試,以使穿過(guò)多孔成分的氣流最小化。氣體頂空必須在大氣壓下或在顯著大于測(cè)試真空條件的壓力下。
技術(shù)參數(shù)
指標(biāo) 參數(shù)
真空度 0--100kPa
檢測(cè)孔徑精度 <3μm
設(shè)備操作 自帶HMI
內(nèi)部壓力 常壓
測(cè)試系統(tǒng) 真空傳感器技術(shù)
真空來(lái)源 外接真空泵
測(cè)試腔 根據(jù)樣品定做
檢測(cè)原理 真空衰減法/無(wú)損檢測(cè)
主機(jī)尺寸 500mmX360mmX320mm(長(zhǎng)寬高)
重 量 18Kg
環(huán)境溫度 20℃-30℃
相對(duì)濕度 80%,無(wú)凝露
工作電源 220V
主機(jī)、觸摸顯示屏、測(cè)量頭、微型打印機(jī)、測(cè)試軟件、通信電纜
微泄漏密封性測(cè)試儀-綜述
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