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超聲波C掃描成像檢測系統(tǒng)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱十堰華飛儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地十堰市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/2/2 17:18:37
  • 訪問次數(shù)193
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十堰華飛儀器設(shè)備有限公司專業(yè)銷售進(jìn)口/國產(chǎn)精密量儀、試驗(yàn)設(shè)備、量具檢具(含非標(biāo)檢具夾具)、機(jī)電設(shè)備、檢測儀器的技術(shù)公司,集生產(chǎn)、銷售、服務(wù)、升級置換于一體(公司位于中國車城湖北十堰,在襄陽設(shè)有售后服務(wù)處)。 公司主營:表面無損檢測設(shè)備、金相圖譜分析(制樣設(shè)備、耗材)、超聲波檢測設(shè)備、3D掃描儀、量檢具(含非標(biāo))、三坐標(biāo) (含配件)、對刀儀、試驗(yàn)機(jī)(液壓、電子)、光學(xué)試驗(yàn)儀器、光譜儀、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、硬度檢測、化學(xué)分析儀、測溫儀、力學(xué)測試等儀器和設(shè)備。 合作伙伴/代理品牌:耐博、時(shí)代、華銀、恒儀、上材、 歐能達(dá)、梅特勒-托利多、邁日、艾卡、萬濠、嘉騰、蘇瑞環(huán)試、思瑞、愛德華、 哈量、成量、重慶光學(xué)、南京光學(xué)、Renishaw、Mitutoyo、OLYMPUS、Mahr、TESA、HBM、Leitech、ELBO、KREON、FARO、INSIZE、ACCUD、IBR、GE、Leica、北京納克、東方、景達(dá)、霍梅爾、試金、國宇、新天光電、中圖等。通過快速發(fā)展的壯大,現(xiàn)已擁有一批技術(shù)工程師,建立了完善的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),具備了相當(dāng)?shù)募夹g(shù)和資金實(shí)力。 公司的核心競爭力是我們專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),長期合作的廠商和完善的售后技術(shù)服務(wù),可以給我們客戶提供的售前和售后服務(wù)。站在客戶的角度,維護(hù)客戶的利益,推薦最合適的儀器/設(shè)備給客戶。 公司堅(jiān)持“誠信為本、服務(wù)至上”的經(jīng)營理念,與眾多企業(yè)保持穩(wěn)定的業(yè)務(wù)往來。提供有競爭力的解決方案和服務(wù),客戶行業(yè)包括:汽車零部件、焊接、鑄造、噴涂、精密加工、模具、電子、五金等行業(yè)和院校、科研機(jī)構(gòu),業(yè)務(wù)已擴(kuò)展至湖北周邊各省、市、區(qū),并得到業(yè)界普遍信賴和客戶的廣泛好評。 我們將一如既往地為廣大客戶著想,并在為客戶提供的檢測解決方案和最完善的服務(wù)中發(fā)展公司的潛力,與客戶一起成長。
超聲硬度計(jì)
超聲c掃描,即超聲C掃描成像系統(tǒng),超聲波c掃描技術(shù)是將超聲檢測與微機(jī)控制和微機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、存貯、處理、圖像顯示集合在一起的技術(shù)
超聲波C掃描成像檢測系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

  超聲c掃描,即超聲C掃描成像系統(tǒng), 超聲波c掃描技術(shù)是將超聲檢測與微機(jī)控制和微機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、存貯、處理、圖像顯示集合在一起的技術(shù)。通俗地講,C掃描就是圖像顯示工件輪廓及不同顏色顯示內(nèi)部缺陷的一種技術(shù)。廣泛應(yīng)用于:釬焊的釬合率檢測、有色金屬、靶材、復(fù)合材料、航空航天、發(fā)動機(jī)挺桿、氣門、電網(wǎng)電極等的檢測. 

  功能特點(diǎn)  

超聲C掃描成像檢測系統(tǒng)具有質(zhì)量穩(wěn)定性、便攜性、耐用性和可靠性等特點(diǎn)。

高分辨率彩色液晶顯示器配有快速模擬實(shí)時(shí)測量系統(tǒng)提供波形的詳細(xì)信息,**屏幕刷新頻率(高于70Hz)使缺陷回波實(shí)時(shí)展現(xiàn)??旖莸逆I盤,簡單明了的菜單結(jié)構(gòu)使人機(jī)交互更友好,儀器操作十分方便。各種輸出接口使得應(yīng)用范圍更廣,使用更靈活。

計(jì)算機(jī)**處理讓檢測效率加倍提升。

主要應(yīng)用

1)結(jié)構(gòu)內(nèi)部和表面腐蝕檢測

2)裂紋深度,形狀和裂紋源的檢測

3)分層缺陷的檢測

4)金屬材料、復(fù)合材料內(nèi)部的缺陷檢測

5)釬焊釬著率的測定

技術(shù)指標(biāo)

1)  系統(tǒng)自由度:3 軸

2) 系統(tǒng)的有效掃描范圍:300mm×400mm×90mm

3)  系統(tǒng)耦合方式:水浸耦合

4)  檢測通道:單通道

5)  系統(tǒng) C 掃描信號采集和運(yùn)動自動控制:

6) 超聲 C 掃描數(shù)據(jù)處理與存儲采用 PC 機(jī)(臺式機(jī)或者筆記本),使用 USB2.0 接口與超聲波發(fā)射/接 收模塊連接,采集和處理已經(jīng)數(shù)字化的超聲波信號。

7) 使用并口或者 USB 接口與步進(jìn)電機(jī)控制器連接,用于控制三軸運(yùn)動。

8) 超聲波發(fā)射/接收模塊:采用USB2.0接口,超聲脈沖發(fā)射/接收與A/D一體化。

9) 具體性能指標(biāo)如下:0.5-20MHz帶寬(-3dB帶寬)3個(gè)可選寬帶帶通濾波器,匹配不同頻率的水浸聚焦探頭:

頻帶1: 0.2 ~ 1 MHz ,

頻帶2: 0.5 ~ 4 MHz ,

頻帶3: 2 ~ 20 MHz

10)  0-110 dB增益: 多種增益步長供用戶選擇,還有更加靈活的用戶自定義步長模式

0.2/0.5 / 1 / 2 / 6 / 12 dB為調(diào)節(jié)步長,0 dB時(shí)鎖定增益。(2) 6.5 ~ 20 dB 自定義步長范圍

11) 檢波方式:射頻 ,全波 ,正半波,負(fù)半波

12) 阻尼可選:低(50 Ohm)、高(500 Ohm)

根據(jù)用戶需要可擴(kuò)展成4種阻尼可選:50 Ohm,75 Ohm,150 Ohm,500 Ohm

13) DAC/TCG,JIS-DAC,AWS1.1,DGS/AVG,REF,斜探頭彩色編碼顯示等業(yè)內(nèi)所有輔助軟件功能。

14) UT發(fā)射器:脈沖發(fā)射器包括2種類型模式,數(shù)字化可控的方波脈沖 (脈沖寬度和電壓范圍比其他公司調(diào)節(jié)范圍寬,并且無級的連續(xù)可調(diào))

脈沖寬度20 ~ 1000 ns,10ns步長,連續(xù)可調(diào) 

電壓幅度20 ~ 500 V,10V步長,連續(xù)可調(diào)

尖脈沖強(qiáng)度:低(70 V)、高(500 V)

15)   脈沖重復(fù)頻率:20 ~ 1K Hz自動調(diào)節(jié)

16) 觸發(fā)、閘門及信號特征值

  觸發(fā)模式:軟件控制(手動和自動模式),外部輸入。

  閘門高度(閾值控制):程序可控1~99%全屏

  閘門數(shù)量:2個(gè)獨(dú)立閘門(閘門起點(diǎn),寬度和高度可控)

  信號特征采集:實(shí)時(shí)特征采集(包含信號幅度和位置)

17)實(shí)時(shí)信號特征

  觸發(fā)到界面(個(gè)回波)檢測

  峰值(閘門內(nèi))位置:峰值位置(飛渡時(shí)間)檢測

  個(gè)峰值(閘門內(nèi))位置:JIS前沿的峰值位置(飛渡時(shí)間)檢測

 (閘門內(nèi))個(gè)峰值前的閾值時(shí)間:JIS前沿檢測

 (閘門內(nèi))峰值前的閾值時(shí)間:前沿檢測

 (閘門內(nèi))峰值幅度檢測

 (閘門內(nèi))個(gè)峰值幅度:JIS前沿的峰值幅度檢測

  信號幅度電壓分辨率大于等于10位

  TOF分辨率10ns

  A/D轉(zhuǎn)換器

18)  分辨率:10位低功耗A/D轉(zhuǎn)換器(采樣率105M采樣點(diǎn)/s)

19)  補(bǔ)償控制:程序控制10位DAC

20)  采樣率至少包含:100M,50M,25M采樣/sec

21)  采樣內(nèi)存:256KB,SRAM

22)  波形采樣長度:不低于256KB采樣

23) 軟件主要功能如下: 

24)  全中文操作系統(tǒng)

實(shí)時(shí)A-、B-、C-、掃描及圖像顯示、存儲。

25)  幅度、TOF(渡越時(shí)間)C-掃描結(jié)果

26)  實(shí)時(shí)幅度、TOF以及測厚數(shù)字顯示;

27)  動態(tài)隨動門檻,C-掃描修正;

28) C-掃描圖像的光順化處理

29)  A—掃描波形上能夠?qū)崟r(shí)顯示

(1)**點(diǎn)波高

(2)任意位置厚度及TOF信息

(3)任意兩點(diǎn)的厚度差值及TOF差值

30)   單向或雙向掃描;

31)   X-Y坐標(biāo)、幅度-位置坐標(biāo)、幅度-時(shí)間坐標(biāo)掃描/畫圖;

32)   C掃描自動統(tǒng)計(jì)缺陷大小、坐標(biāo)、面積及面積百分比。

33)  實(shí)時(shí)B掃描,直接由原始A波形生成B掃描。

34)  可實(shí)現(xiàn)檢測結(jié)果的斷層掃描。

35)  可存儲全波形文件,并可方便修改門檻及增益設(shè)置,重新生成C掃描圖像。

36)  掃查結(jié)果能夠方便轉(zhuǎn)化成易于閱讀數(shù)據(jù)格式文件。

37) .收發(fā)模塊的性能指標(biāo)

垂直線性誤差:≤3%

水平線性誤差:≤0.2%

靈敏度余量:>60dB (200Φ2平底孔)

分辨力:>30dB

動態(tài)范圍:≥30dB

電噪聲電平:<20%

頻帶:0.2 MHz ~ 20MHz,包括3個(gè)寬帶。

采樣頻率:基于硬件的實(shí)時(shí)采樣頻率,100MHz。

增益:0.0 dB ~ 110.0dB。步進(jìn)值:0.2、0.5、1.0、2.0、6.0dB、12.0dB。0.0dB檔可鎖定增益調(diào)

     節(jié)功能。

阻尼:50Ω、75Ω、150Ω、500Ω。

發(fā)射脈沖:方波(選件)(電壓20V ~ 500V,脈沖寬度20ns ~ 1000ns)尖脈沖(發(fā)射強(qiáng)度:

         高、中、低)。

脈沖重復(fù)頻率:20Hz ~ 1000Hz,自動調(diào)節(jié)。

探測范圍:1 mm~10000mm(鋼縱波),連續(xù)可調(diào),最小步進(jìn)值 0.1mm。

材料聲速:100 m/s~20000m/s,連續(xù)可調(diào)。內(nèi)置7個(gè)常用的材料聲速值。

顯示延時(shí):-5μs~3400μs。

探頭延時(shí):0μs ~ 100μs。

工作方式:單晶、雙晶、透射。

測量模式:閘門內(nèi)脈沖波的**、峰值。

檢波方式:全波、負(fù)半波、正半波、射頻。

抑制:0% ~ 90%,抑制連續(xù)可調(diào),抑制的打開,不影響C掃描系統(tǒng)的垂直線性等指標(biāo)

環(huán)境溫度:0℃~ 55℃

  

關(guān)鍵詞:控制器
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