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單晶硅高精度測(cè)厚儀

參考價(jià) 1000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱濟(jì)南新準(zhǔn)儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌新準(zhǔn)儀器
  • 型       號(hào)CHY-C2
  • 所  在  地濟(jì)南市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024/8/13 15:29:12
  • 訪問(wèn)次數(shù)610
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濟(jì)南新準(zhǔn)儀器設(shè)備有限公司(簡(jiǎn)稱:新準(zhǔn)儀器)總部位于山東.濟(jì)南,是一家專注于實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)儀器研發(fā)和銷售為一體的新科技創(chuàng)新企業(yè),致力于為質(zhì)檢藥檢系統(tǒng)、食品行業(yè)、藥品行業(yè)、包裝印刷行業(yè)、膠黏劑行業(yè)、日化行業(yè),提供高品質(zhì)的包裝材料檢測(cè)儀器和全面質(zhì)量解決方案。

濟(jì)南新準(zhǔn)儀器有限公司擁有多位十年以上經(jīng)驗(yàn)的專業(yè)技術(shù)服務(wù)人員和研發(fā)團(tuán)隊(duì),傾力為客戶提供更專業(yè)、更智能化產(chǎn)品和服務(wù)。


濟(jì)南新準(zhǔn)儀器擁有一支完善的售后團(tuán)隊(duì)和服務(wù)準(zhǔn)則,提供10分鐘問(wèn)題必響應(yīng),兩年整機(jī)質(zhì)保,設(shè)備90天內(nèi)只換不修。

服務(wù)理念

重視合同 , 確保質(zhì)量 : 準(zhǔn)時(shí)交付 , 嚴(yán)守承諾
企業(yè)宗旨
為更多中小企業(yè)實(shí)驗(yàn)室提供整體解決方案。



密封測(cè)試儀 拉力試驗(yàn)機(jī) 薄膜測(cè)厚儀 摩擦系數(shù)測(cè)試儀 膠帶剝離試驗(yàn)機(jī) 紙板邊壓試驗(yàn)機(jī) 紙板破裂強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 紙箱抗壓試驗(yàn)機(jī) 紙箱跌落試驗(yàn)機(jī)
產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
CHY-C2單晶硅高精度測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式,嚴(yán)格按照GB/T 6618標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì),有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于8英寸/12英寸晶圓板、硅片厚度精確測(cè)量,同時(shí)也滿足塑料薄膜、無(wú)紡布、銅箔、金屬鍍層、薄片、隔膜、紙張、箔片等材料的厚度測(cè)量。
單晶硅高精度測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息

單晶硅高精度測(cè)厚儀

單晶硅高精度測(cè)厚儀

CHY-C2單晶硅高精度測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式,嚴(yán)格按照GB/T 6618標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì),有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于8英寸/12英寸晶圓板、硅片厚度精確測(cè)量,同時(shí)也滿足塑料薄膜、無(wú)紡布、銅箔、金屬鍍層、薄片、隔膜、紙張、箔片等材料的厚度測(cè)量。


單晶硅高精度測(cè)厚儀 技術(shù)特征

l 搭載7寸IPS觸控屏,采用進(jìn)口MEAS差動(dòng)電感式位移傳感器分辨率0.1um.

l 測(cè)試過(guò)程按用戶設(shè)定程序,測(cè)量頭自動(dòng)升降測(cè)量,測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)打印

l 支持同組數(shù)據(jù)100個(gè)測(cè)量點(diǎn)數(shù)據(jù)采集,支持500組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)/查詢

l 支持多級(jí)用戶權(quán)限管理,測(cè)試數(shù)據(jù)歷史記錄可查詢,可審計(jì)追蹤。

l 實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進(jìn)行判斷

l 配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定,保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性

l 可選配自動(dòng)進(jìn)樣裝置,實(shí)現(xiàn)無(wú)人工操作,系統(tǒng)全自動(dòng)測(cè)量

l 配備USB接口專業(yè)測(cè)控軟件、可通過(guò)軟件操控儀器完成各項(xiàng)測(cè)量


單晶硅高精度測(cè)厚儀


測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 該設(shè)備滿足多項(xiàng)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):GB/T 6618-2009ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817GB/T 24218.2


技術(shù)指標(biāo)

測(cè)試范圍 0~2 mm(常規(guī)) 0~6 mm(可選)

分辨率 0.1 μm

臺(tái)面有效尺寸:340mm*480mm

接觸面積 1.77 mm2標(biāo)配

測(cè)量頭直徑:1.5mm(標(biāo)配)注:非標(biāo)可定制

電源 AC 220V 50Hz

外形尺寸 630 mm(L)× 340 mm(W)×350 mm(H)

凈重 35 kg


產(chǎn)品配置:主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件、專業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭




關(guān)鍵詞:測(cè)厚儀 傳感器
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