絕緣電阻劣化（離子遷移）評估平臺

絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)

         離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

應(yīng)用領(lǐng)域：

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料； 

電子材料：印BGA、CSP等精細節(jié)距IC封裝件； 

有機半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等； 

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料； 

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。