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粒度電聲法Zeta電位分析儀

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更新時(shí)間:2024-04-12 11:59:17瀏覽次數(shù):156

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品參數(shù)粒度電聲法Zeta電位分析儀,Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品參數(shù)

粒度電聲法Zeta電位分析儀,Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量;樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;具有自動電位滴定功能;
屬性
產(chǎn)品名稱
型號
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更新時(shí)間
詳情
粒度電聲法Zeta電位分析儀
6次
2023-02-21

產(chǎn)品詳情

超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀

主要特點(diǎn):

1)能分析多種分散物的混合體;

2)無需依賴Double Layer模式,準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn);

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

5)可準(zhǔn)確測量無水體系;

6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量;

7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;

8)具有自動電位滴定功能;

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)被測樣品無需稀釋;

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)不需定標(biāo);

4)能分析多種分散物的混合體;

5)高精度;

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需定標(biāo);

2)能測更寬的粒徑范圍;

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

6)可適用于無水體系;

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%;

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

5)electrosmotic flow不影響測量;

6)對流(convection)不影響測量;

7)可準(zhǔn)確測量無水體系;

技術(shù)參數(shù):

1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;

2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;

3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));

6)樣品體積:30-230ml;

7)PH范圍:0~14;

8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m

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