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步入式低氣壓試驗(yàn)室 步入式高低溫(交變濕熱)低氣壓試驗(yàn)室

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更新時(shí)間:2023-04-21 10:59:21瀏覽次數(shù):221

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

眾志檢測(cè)儀器步入式低氣壓試驗(yàn)室/步入式高低溫(交變濕熱)低氣壓試驗(yàn)室產(chǎn)品主要用于模擬電子儀器儀表、新型材料、電工、車(chē)輛配件、金屬、電子產(chǎn)品、航空航天材料等在運(yùn)輸、儲(chǔ)存、使用過(guò)程中可能會(huì)遇到的嚴(yán)酷高溫、低溫、濕熱、低氣壓環(huán)境;或高溫、低溫、濕熱、低氣壓交變環(huán)境下,檢驗(yàn)其材料、配件或儀器設(shè)備耐高溫、耐寒、耐潮濕、耐低氣壓性能及可能造成的損壞壽命縮減等......

詳細(xì)介紹

技術(shù)特點(diǎn)

 

1.2 實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程可視化控制

 

 

眾志檢測(cè)儀器步入式低氣壓試驗(yàn)室/步入式高低溫(交變濕熱)低氣壓試驗(yàn)室配置人機(jī)管理界面,觸模式自動(dòng)化控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制;同時(shí)通過(guò)RS485/網(wǎng)口等通訊界面

實(shí)現(xiàn)與遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)的連接遠(yuǎn)程監(jiān)控。整個(gè)系統(tǒng)通過(guò)圖形化界面,控制管理簡(jiǎn)單快速,故障自動(dòng)提示,圖形化提示故障節(jié)能并提出解決方法,指導(dǎo)用戶(hù)快速排障。

 

 

核心技術(shù)參數(shù)

 

規(guī)格 型號(hào) CZ-GQ-8000E CZ-GQ-16000E CZ-GQ-24000E CZ-GQ-120000E
箱體結(jié)構(gòu) 內(nèi)容積 8000L 16000L 24000L 120000L
工作室尺寸 W2000×H2000×D2000mm W2000×H2000×D4000mm W3000×H2000×D4000mm W8000×H2500×D6000mm
外形尺寸 以實(shí)際尺寸為準(zhǔn) 以實(shí)際尺寸為準(zhǔn) 以實(shí)際尺寸為準(zhǔn) 以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)
外箱材質(zhì) 加厚冷軋鋼板,烤漆(乳白色)處理
內(nèi)箱材質(zhì) 加厚SUS#304不銹鋼,方便清潔
箱門(mén)材質(zhì) 加厚冷軋鋼板,烤漆(藍(lán)色)處理,門(mén)
觀(guān)察窗 鋼化玻璃觀(guān)察窗
泄壓裝置 箱體配置泄壓口
主要技術(shù)指標(biāo) 控制方式 觸摸式液晶彩色顯示屏
溫度范圍 -50~+100℃(可定制)
降溫速率 +25℃→-50℃ 1℃/分鐘 (全程平均)
升溫速率 +25℃→+100℃ 3℃/分鐘 (全程平均)
溫度解析度 0.1℃
溫度波動(dòng)度 ±0.5℃;(常壓、空載時(shí),恒定狀態(tài))
溫度偏差 ±2.0℃;(常壓、空載時(shí),恒定狀態(tài))
溫度均勻度 ≤2.0℃;(常壓、空載時(shí),恒定狀態(tài))
壓力范圍 常壓~10KPa;
降壓時(shí)間 常壓~10KPa≤5min(-50℃環(huán)境下)
氣壓變化速率 ≥10KPa/分鐘
壓力偏差 常壓~40KPa:≤±2KPa
40KPa~2KPa:≤±5%
2KPa~1KPa:≤0.1KPa
攝像監(jiān)控系統(tǒng)          測(cè)試區(qū)域內(nèi)配置高清攝像系統(tǒng)(選配)
標(biāo)準(zhǔn)配置         主機(jī)、樣品架、樣車(chē)2套
輔助功能       電壓、溫度采集、安全防爆系統(tǒng)、煙霧排放系統(tǒng)、煙霧過(guò)濾系統(tǒng)(選配)
安全保護(hù)           漏電、超溫、過(guò)壓、過(guò)載、異常聲光報(bào)警
電源電壓              AC380V 50Hz

 

 

滿(mǎn)足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

 

●GJB 150.2A-2009 《裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分低氣壓(高度)試驗(yàn)》
●GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法105低氣壓試驗(yàn)》(等效美軍標(biāo)MIL-STD-202F)
●GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序方法1001 低氣壓(高空作業(yè))》(等效美軍標(biāo)MIL-STD-883D)
●GB/T 2421-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)總則》
●GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M低氣壓試驗(yàn)方法》
●GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
●GB/T 2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
●GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)》
●GB/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》
●MIL-STD-810F 《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)低氣壓(高度)試驗(yàn)》
●GB/T 1920-1980  標(biāo)準(zhǔn)大氣(30公里以下部分)(2015年10月已作廢)
●IEC 60068-2-41(1976)《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM
●GB/T38058-2019 電池低氣壓試驗(yàn)方法

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