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高速相位差測(cè)量裝置 RE-200

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更新時(shí)間：2024-10-15 07:53:05瀏覽次數(shù)：110次

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  納米粒度儀

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大塚電子（蘇州）有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：39條

所在地區(qū)：江蘇蘇州市

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可測(cè)從0nm開始的低（殘留）相位差光軸檢出同時(shí)可高速測(cè)量相位差(Re.) （相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理）無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高設(shè)置的測(cè)量項(xiàng)目少，測(cè)量簡(jiǎn)單...

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品信息

特點(diǎn)

● 可測(cè)從0nm開始的低（殘留）相位差
● 光軸檢出同時(shí)可高速測(cè)量相位差(Re.)
（相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理）
● 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高
● 設(shè)置的測(cè)量項(xiàng)目少，測(cè)量簡(jiǎn)單
● 測(cè)量波長(zhǎng)除了550nm以外，還有各種波長(zhǎng)
● Rth測(cè)量、角測(cè)量
（需要option的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜治具
● 通過與拉伸試驗(yàn)機(jī)組合，可同時(shí)評(píng)價(jià)膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）

測(cè)量項(xiàng)目

● 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
● 主軸方位角（θ[deg.]）
● 橢圓率（ε）?方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

● 什么是RE-200
● RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計(jì)測(cè)模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測(cè)量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長(zhǎng)時(shí)間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

執(zhí)行擬合/傅立葉變換以計(jì)算橢圓度 ε 和方位角 γ。

規(guī) 格

型號(hào)	RE series
樣品尺寸	最小10×10mm ～100×100mm
測(cè)量波長(zhǎng)	550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1
相位差測(cè)量范圍	約0nm ～約1μm
軸檢出重復(fù)精度	0.05°（at 3σ） ※2
檢出器	偏光計(jì)測(cè)模塊
測(cè)量光斑直徑	2.2mm×2.2mm
光源	100W 鹵素?zé)艋?LED光源
本體?重量	300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg