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大塚電子(蘇州)有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地蘇州市
聯(lián)系方式:廖海榮查看聯(lián)系方式
更新時間:2024-10-15 07:51:30瀏覽次數(shù):80次
聯(lián)系我時,請告知來自 制藥網(wǎng)本公司的MCPD series在線膠卷評價系統(tǒng),由于光學(xué)式非接觸·非破壞的膜厚,濃度,顏色等的檢查可能??蓽y定膜厚范圍為65nm~92μm和薄膜到厚膜都對應(yīng)。(折射率1.5時)測量原理為分光干涉方式,在實現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時,還支持多層厚度測量。由于采用了獨自算法,可以高速實時監(jiān)控,所以作為在線膠片監(jiān)控,我們提出了的系統(tǒng)。...
產(chǎn)品信息
特 點
● 工藝過程中的薄膜高速測量
●最短曝光時間1ms~※根據(jù)規(guī)格
●支持遠程測量
●膜厚測量范圍65nm~92μm(換算為SiO2)
基本配置
多點測量點切換對應(yīng)系統(tǒng)
在多點測量點切換對應(yīng)系統(tǒng)中,通過在TD方向預(yù)先設(shè)置任意寬度的多分支光纖,可以在不驅(qū)動光纖的情況下測量TD方向的膜厚分布??梢宰鳛橥繉拥臈l件和實時監(jiān)視器使用。
檢測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)為1式,通過光纖的光路切換可以進行多點測定。
橫動單元對應(yīng)系統(tǒng)
在橫動單元對應(yīng)系統(tǒng)中,通過在TD方向上驅(qū)動橫動單元,可以以任意寬度和任意間距測量TD方向的膜厚分布。
可以作為涂層條件提出和實時監(jiān)控使用。 由于通過排線單元的驅(qū)動進行多點測量,因此無需準備多臺檢測器和數(shù)據(jù)處理。
即使在真空環(huán)境下也可以在多點進行反射、透射光譜測定
通過使用各種法蘭對應(yīng)的耐真空纖維,可以在高真空下測量反射、透射光譜。
另外,膜厚運算不易受到基膜的上下移動的影響,并且采用精度良好的薄膜測量大冢電子獨自的算法,可以作為實時監(jiān)視器使用。
式樣
MCPD-9800仕様
MCPD-6800仕様
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