Table stable 主動隔振臺,低頻隔振臺,除振臺AVI-400S響應(yīng)時間快.主動隔振頻率為 0.5Hz – 200Hz,被動隔振頻率>200Hz.適用于各類大型電子顯微鏡AEMSEMATMTEM,主動式隔振臺,輪廓主動隔振臺,電子天平主動式隔振臺,超快激光系統(tǒng)式主動隔振臺,時頻系統(tǒng)隔振臺,大型半導(dǎo)體設(shè)備隔振臺,激光設(shè)備主動隔振臺.
AVI-400S產(chǎn)品描述:
Table Stable低頻隔振臺-隔振臺AVI系列是一款緊湊型模塊化的主動隔振系統(tǒng)，可在寬頻率范圍內(nèi)為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供業(yè)界的主動隔振性能（從0.5 Hz開始）。AVI系列隔震臺通過消除影響測量的破壞性低頻振動噪聲，幫助用戶從顯微鏡上獲得更多收益，并且平臺采用了低調(diào)的模塊化設(shè)計，無需為大多數(shù)儀器（包括大多數(shù)SEM）安裝所需的升降設(shè)備，從而簡化了安裝過程。
AVI-400S 低頻隔振臺，軸方向自由度隔振臺，無低頻共振剛度減振臺，高負(fù)載隔振臺，高承重減振系統(tǒng)，LCD實時顯示主動隔振臺，免安裝減振臺，即插即用避振系統(tǒng)，高分辨率顯微鏡減震系統(tǒng)，超低頻率主動隔震系統(tǒng)，原子力顯微鏡減振臺，隧道顯微鏡避振系統(tǒng)，微納加工精密儀器主動防振設(shè)備
主動隔振臺AVI-400S工作原理:
AVI-400S使用電氣控制，通過對傳入振動施加反方向的力來立即消除振動。傳感器不斷監(jiān)測振動，并基于該信息，執(zhí)行器沿相反方向產(chǎn)生作用力，并繼續(xù)產(chǎn)生的振動隔離狀態(tài)。主動式隔振臺擅長于10Hz以下的低頻范圍內(nèi)的隔振。
AVI系列防震臺采用的隔振技術(shù)，適用于任何研究情況下，可以隔離6個自由度方向上的振動，包括水平和垂直方向。AVI系列平臺利用控制器內(nèi)的壓電加速度傳感器來傳感外界傳入的振動，通過將外界的壓力信息轉(zhuǎn)換為電信號發(fā)送至隔離模塊中的壓電換能器中，然后改換能器產(chǎn)生一個與傳入壓力大小相等，相位相反的壓力信號來消除傳入振動。隔振系統(tǒng)利用一個反饋回路來消除隔振系統(tǒng)的機(jī)械共振?？蔀閷嶒炇抑袑φ饎用舾械脑O(shè)備如電鏡，光學(xué)器件等精密儀器隔離來自地面的震動，提供穩(wěn)定的測試環(huán)境。
AVI-400S產(chǎn)品特點: - 六個空間方向自由隔振(0.5Hz – 200Hz主動隔振, >200Hz被動隔振)
- 5-20ms響應(yīng)時間
- 低頻隔振性能優(yōu)異,安裝和使用簡單
- 系統(tǒng)主動檢測輸入振動并動態(tài)消除
- 緊湊、模塊化的多功能設(shè)計
- 穩(wěn)定性高，能連續(xù)使用多年
- 無低頻共振、無空氣要求
AVI-400S應(yīng)用范圍:
- 超高真空掃描探針顯微鏡（UHV-SPM）
- 光刻工具
- 高精度計量工具
- 光譜儀器
主動隔振臺 AVI-400S技術(shù)參數(shù): - 型號：AVI-400S/LP
- 系統(tǒng)配置：獨立隔振裝置 & 控制裝置
- 主動隔振范圍：大致為1.0 Hz – 200 Hz
- 被動隔振范圍:大致為200 Hz以上
- 顯示屏信號:多路復(fù)用信號用于示波器顯示器包含和不含隔振的振動水平。
- LEDs 指示輸出階段的過載情況。
- 單元尺寸(每個):190 x 396 x 112.5 Hmm
- 控制器尺寸:241 x 287 x 142 Hmm
- 隔振單元重量: 15kg
- 負(fù)載能力:800 kg (同等/低重心)
- 輸入電壓: 90 – 125 VAC / 200 – 250 VAC, 50 – 60 Hz
- 功耗：通常18W
- 校正力：水平8N，垂直16N
- 系統(tǒng)噪音：0.1-200Hz任何方向上低于50nG/√Hz
- 靜態(tài)柔度：垂直約1.7 µm/N，水平約3.4 µm/N
- 溫度范圍：5℃ – 40℃
- 相對濕度：10 – 90 % (5 – 30 ℃)?10 – 60 % (30 – 40 ℃)
- 室內(nèi)/室外使用：僅用于室內(nèi)
主動式隔振臺 升級選項：
- AVI-400S 可與LFS低頻穩(wěn)定器配套使用來增強(qiáng)低頻隔振效果，隔振頻率低頻段延伸至0.5Hz。
AVI-400S隔振效果:
性能對比圖：SEM的研究人員在兩種條件下進(jìn)行成像： 不含隔振系統(tǒng)和包含AVI-400系列隔振臺。當(dāng)使用AVI系列隔振臺搭載SEM時，所得圖像表明圖像質(zhì)量和整體測量清晰度得到大幅提升。
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