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芯片高低溫測試設備性能指標保護措施

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱廣東艾思荔檢測儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/11/23 11:35:46
  • 訪問次數(shù)98
產(chǎn)品標簽:

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    廣東艾思荔檢測儀器有限公司成立于1988年,多年以來一直主力經(jīng)營可靠性試驗設備,并致力于技術研究與品質改善;配套提供專業(yè)意見、完善的產(chǎn)品、快速的售后服務。
公司位于東莞市南城,地理位置*、交通及其便捷。數(shù)年來公司堅持致力于產(chǎn)品的
制造、研發(fā)、設計和銷售、服務為一體的生產(chǎn)企業(yè),擁有雄厚的技術力量、一如既往為客戶提供可靠、質優(yōu)價廉的“環(huán)境試驗設備”滿足客戶的要求。公司產(chǎn)品已廣泛應用于IC、電子、家電、通信、電腦、航空航天、兵器、汽車、線路板、連接器等行業(yè)和領域,成為其縮短開發(fā)周期,提升產(chǎn)品品質的*的得力助手。
多年以來,為了能夠撐控更高的產(chǎn)品品質、更精密的制造技能、*的管理經(jīng)營理念;故
1995年與日本試驗設備制造商進行全面合作,不斷開發(fā)新的產(chǎn)品,從而提升市場的競爭力;并努力降低制造成本,把其利潤回饋給客戶,使其能擁有品質優(yōu)良、價格合理、服務到位之產(chǎn)品,進而達到雙贏之目的,Z終迎得客戶的信賴與滿意。
公司“ASLi”的商標早在北京商標局已注冊,依托*的技術,多年的研發(fā)銷售經(jīng)驗,以*的設計理念,可靠的制造工藝,*的檢測設備,*的售后服務贏得了廣大客戶的信賴與和支持。我們通過不斷的提升品質,強化管理,完善服務,迅速成為國內*的環(huán)境試驗設備生產(chǎn)廠家。
我們秉持“持續(xù)改進,追求*”的經(jīng)營理念,“客戶的滿意即是我們努力之所在”的服務宗旨,愿與新老客戶攜手共創(chuàng)輝煌。

   公司主要生產(chǎn):可程式恒溫恒濕,冷熱沖擊試驗機,三綜合振動,溫度/濕度復合式鹽霧試驗機,溫度沖擊試驗機,沖擊試驗臺,步入式老化房,高溫高濕,快速溫變,電磁式高頻振動,鹽霧試驗箱,高低溫試驗機,二箱沖擊,雙85試驗箱,UV紫外線,沙塵試驗機,沖擊碰撞,電腦插拔力,三次元,耐光試驗,耐水試驗,蒸氣老化,換氣式老化,破裂強度等系列產(chǎn)品...
  本公司可訂做各種特殊(非標)要求的可靠性試驗設備機型。

可程式恒溫恒濕,冷熱沖擊試驗機,三綜合振動,溫度/濕度復合式鹽霧試驗機,溫度沖擊試驗機,沖擊試驗臺,步入式老化房,高溫高濕,快速溫變,電磁式高頻振動
芯片高低溫測試設備性能指標保護措施:1、可靠的接地保護裝置2、電源欠壓、缺相保護3、獨立的工作室超溫保護4、制冷機超壓、過載、油壓欠壓保護
芯片高低溫測試設備性能指標保護措施 產(chǎn)品信息

    芯片高低溫測試設備性能指標保護措施:

    1、可靠的接地保護裝置  

    2、電源欠壓、缺相保護  

    3、獨立的工作室超溫保護  

    4、制冷機超壓、過載、油壓欠壓保護;  

    5、加熱器短路、過載保護  

    6、漏電保護、報警聲訊提  

    芯片高低溫測試設備規(guī)格型號及技術參數(shù):

    1.溫度范圍:-20~+150℃/-40~+150℃/-50~+150℃/-60~+150℃/-70~+150/-85~+150℃。  

    2.控制穩(wěn)定度:±0.5℃  

    3.分布均勻度:±1.5℃  

    4.正常升溫時間:-+20℃~+150℃小于45分鐘非線性空載。  

    5.正常降溫時間:+20~-20℃小于45分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/+20~-50℃小于65分鐘.  

    +20~-60℃小于70分鐘/+20~-70℃小于75分鐘/20~-85℃小于100分鐘非線性空載.  

    適合測試:鋰離子、鎳氫、鎳鎘、鉛酸、金屬氫化物鎳等多種類型的單體電池和電池組,依據(jù)標準GB8897.4-200(idtIEC60086-4:2000)《原電池第4部分:鋰電池的要求》、GB8897.5-2006(idtIEC60086-5:2005)《原電池第5部分:水溶液電解質電池的要求》、IEC62133:2002《堿性或其它非酸性電解液二次單體電池和電池組便攜式密封二次單體電池和電池組的要求》、IEC61951-1:2003《含堿性或其它非酸性電解質的便攜式密封可再充電電池和電池組第1部分:  

    芯片高低溫測試設備執(zhí)行標準:  

    1.GB10586-2006濕熱試驗箱技術條件(本公司為起草單位之一)  

    2.GB10589-2008低溫試驗箱技術條件(本公司為起草單位之一)  

    3.GB10592-2008芯片高低溫測試設備技術條件(本公司為起草單位之一)  

    4.GB11158-2006高溫試驗箱技術條件(本公司為起草單位之一)  

    5.GB/T2423.1-2001試驗A:低溫試驗方法  

    6.GB/T2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法  

    7.GB/T2423.3-1993試驗Ca:恒定濕熱試驗  

    8.GB/T2423.4-1993試驗Db:交變濕熱試驗方法  

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