Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡
肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與View®2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構(gòu)，可以對精細結(jié)構(gòu)進行三維分析。
產(chǎn)品規(guī)格：
產(chǎn)品特點：
· 肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與3View®2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構(gòu)，可以對精細結(jié)構(gòu)進行三維分析。
· 系統(tǒng)簡介
· JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan產(chǎn)品）組合使用，能獲得大量的大范圍的切片圖像。這樣就能夠進行數(shù)百微米區(qū)域的三維重構(gòu)。通過三維重構(gòu)能夠觀察二維圖像上無法看到的細胞的深處結(jié)構(gòu)。
。外觀：
操作
· 自動、反復地切割樣品和獲取圖像，能獲得大量的切片圖像。 對獲得的切片圖像，通過軟件進行堆疊、調(diào)節(jié)、生成三維圖像。
應用數(shù)據(jù)
小鼠大腦 突觸
細分數(shù)據(jù)
黃色區(qū)域：突觸囊泡
綠化面積：突觸后部增厚部分
紅色區(qū)域：突觸后部
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